扫描链

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扫描链(英語:Scan chain)是可测试性设计的一种实现技术。它通过植入移位寄存器,使得测试人员可以从外部控制和观测电路内部触发器的信号值。

参考文献[编辑]

  • Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu and Xiaoqing Wen. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Morgan Kaufmann. ISBN 978-0123705976. 

相关条目[编辑]